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反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)

產(chǎn)品時(shí)間：2024-06-01

訪問次數(shù)：576

簡要描述：

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
主要特點(diǎn)
集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源
反射率和透射率同時(shí)測(cè)量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測(cè)量位置
放個(gè)樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡單

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日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT

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F10-RT 是一款集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無需復(fù)雜的設(shè)置，而且設(shè)置非常簡單。

主要特點(diǎn)

  • 集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)
    光譜范圍廣，可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時(shí)測(cè)量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
    標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測(cè)量位置

  • 放個(gè)樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，設(shè)置非常簡單

主要應(yīng)用

 

平板光學(xué)鍍膜薄膜太陽能電池
聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜
玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。
CdTe、CIGS、非晶硅等

產(chǎn)品陣容

 

 模型

 F10-RT

-紫外線

 F10-RT

 F10-RT

-近紅外

 F10-RT

　-近紅外

 F10-RT

　-UVX

測(cè)量波長

范圍

膜厚測(cè)量

范圍

性

光源






 190 – 1100nm380 – 1050nm 950 – 1700nm 380 – 1050nm380 – 1050nm
 1nm – 40μm15nm – 70μm 100nm – 150μm 15nm – 150μm1nm – 150μm
± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度± 0.2% 薄膜厚度
1納米2納米3納米2納米1納米

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素

 

測(cè)量示例

 

平板中使用的透明電極ITO的膜厚和折射率的測(cè)定例
同時(shí)測(cè)定反射率和透射率。薄膜厚度分析 FIL Measure 軟件可即時(shí)分析薄膜厚度、折射率等。


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